반도체

반도체 산업은 높은 제품 통합과 까다로운 응용 시나리오로 인해 신뢰성 테스트 장비에 대한 수요가 시급합니다. 자동차 전자 제품, 항공 우주 장비 및 기타 시나리오에서 칩은 극한의 온도(-55°C~125°C), 습도, 진동 및 기타 환경을 견뎌야 하며 불안정한 성능으로 인해 장비 고장이 발생할 수 있습니다. 테스트 장비는 고온 및 습도(예: 85°C/85% RH), 온도 사이클링(-40°C~ 125°C), 염수 분무 부식 및 기타 작업 조건을 시뮬레이션하고 패키지 균열, 솔더 조인트 파손 및 산화물 층 파괴와 같은 결함을 미리 찾을 수 있습니다. 예를 들어, HAST(Highly Accelerated Stress Test)는 칩의 내습성을 확인하는 데 사용되며 진동 테스트는 내부 핀의 헐거움을 감지하는 데 사용됩니다. 동시에 장비는 5G, 사물 인터넷 및 기타 분야에서 칩의 장기적이고 안정적인 작동을 보장하고 고장으로 인한 막대한 리콜 손실을 방지하기 위해 JEDEC 및 AEC-Q와 같은 산업 표준을 충족해야 합니다.

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